محبوبترین نویسندگان :
نویسندگان مقالات پربازدید :
مجله مواد الکترونیکی 2013
جزئیات رویداد
اینستاگرام تی پی بین
همایش ، رویداد ، ژورنال

  • comparison of the schaake and benson etches to delineate dislocations in hgcdte layers

    نویسندگان :
    کلمات کلیدی :
    جزئیات بیشتر مقاله
    • تاریخ ارائه: 1392/07/24
    • تاریخ انتشار در تی پی بین: 1392/07/24
    • تعداد بازدید: 872
    • تعداد پرسش و پاسخ ها: 0
    • شماره تماس دبیرخانه رویداد: -
     the morphology and classification of etch pits in molecular beam epitaxy-grown (211) hgcdte/cdte/si layers were investigated using the schaake and benson etch pit density (epd) etches. the two epd etches were compared and shown to have a 1:1 correlation in the etch pits that were produced. close examination of the shape of the etch pits via scanning electron microscopy shows that several distinguishable classifications of etch pits are revealed using both etches. samples subjected to thermal cycle annealing (tca) treatment show a nonuniform reduction in etch pit populations according to the classification defined in this study. in particular, a class of etch pits called “fish shaped” are completely absent after tca and can account for up to one-third of the total reduction in epd.

سوال خود را در مورد این مقاله مطرح نمایید :

با انتخاب دکمه ثبت پرسش، موافقت خود را با قوانین انتشار محتوا در وبسایت تی پی بین اعلام می کنم
مقالات جدیدترین رویدادها
مقالات جدیدترین ژورنال ها