همایش ، رویداد ، ژورنال
اینستاگرام تی پی بین
حوزه های تحت پوشش رویداد
  • بررسی ساختاری و اپتیکی لایه های نازک cds:fe تهیه شده به روش تبخیر آنی

    جزئیات بیشتر مقاله
    • تاریخ ارائه: 1392/07/24
    • تاریخ انتشار در تی پی بین: 1392/07/24
    • تعداد بازدید: 578
    • تعداد پرسش و پاسخ ها: 0
    • شماره تماس دبیرخانه رویداد: -
    لایه های نازیک سولفید به ضخامت 250nm با درصد آلایش آهن صفر، 0.1، 0.2 و 0.3 به روش تبخیر آنی در خلاء در فشار 50´10-6mbar بر روی شیشه لایه نشانی شدند. برای مطالعه ساختار بلوری لایه ها از روش xrd و برای بررسی ریخت سطح از آنالیز fesem استفاده شد. از طیف جذبی نمونه ها برای مطالعه گاف انرژی استفاده شد و مشاهده شد که با افزایش آهن در ترکیب، گاف انرژی کاهش می یابد. از طیف نگاری فتولومینسانس برای مطالعه اپتیکی نمونه ها با انرژی تهییج 2.6-1.6 الکترون ولت استفاده شد که تغییراتی در شدت قله ها با افزایش آهن مشاهده گردید.

سوال خود را در مورد این مقاله مطرح نمایید :

با انتخاب دکمه ثبت پرسش، موافقت خود را با قوانین انتشار محتوا در وبسایت تی پی بین اعلام می کنم
مقالات جدیدترین ژورنال ها