همایش ، رویداد ، ژورنال
اینستاگرام تی پی بین
حوزه های تحت پوشش رویداد
  • تصحیح ابیراهی کروی روی مرتبه سوم در تلسکوپ دو آینه ای با استفاده از روش تحلیلی

    جزئیات بیشتر مقاله
    • تاریخ ارائه: 1393/01/01
    • تاریخ انتشار در تی پی بین: 1393/01/01
    • تعداد بازدید: 762
    • تعداد پرسش و پاسخ ها: 0
    • شماره تماس دبیرخانه رویداد: -

    دست یابی به سیتمی با کیفیت بالا به عنوان یک ضرورت در طراحی سیستم های اپتیکی مطرح است و این هدف زمانی حاصل خواهد شد که میزان ابیراهی های در سیستم موردنظر به حداقل رسیده باشند. پس برای تصحیح ابیراهی مرتبه سوم در یک سیستم دو آینه ای، یک روش تحلیلی پیشنهاد می کنیم. برای این منظور سیستم اپتیکی را توسط نرم افزار اسلو شبیه سازی نموده و میزان ابیراهی را با استفاده از رابطه جمع سیدل، در سطوح اپتیکی محاسبه کرده ایم. سپس میزان تغییرات لازم بر سطح اپتیکی را در نرم افزار اعمال کرده و جبهه موج حاصل از آرایش اپتیکی را توسط چندجمله ای های زرنیک مورد مطالعه قرار داده ایم.

سوال خود را در مورد این مقاله مطرح نمایید :

با انتخاب دکمه ثبت پرسش، موافقت خود را با قوانین انتشار محتوا در وبسایت تی پی بین اعلام می کنم
مقالات جدیدترین ژورنال ها